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標準曲線法（standard curve method），又稱校正曲線法，是用標準物質(zhì)配制標準系列，在標準條件下，測定各標準樣品的吸光度值A(chǔ)_i；以吸光度值A_i，（i＝1，2，3，…）對被測元素的含量C_i（i＝1，2，3，…）建立校正曲線A＝f（c），在同樣條件下，測定樣品的吸光度值A(chǔ)_x，根據(jù)被測元素的吸光度值A(chǔ)_x從校正曲線求得其濃度C_x。

校正曲線法成功應(yīng)用的基本條件在于:標準系列與被分析樣品組成的精確匹配，標樣濃度的準確標定，吸光度值的準確測量與校正曲線的正確制作和使用。

在實驗條件一定時，對于特定的元素測定，原子吸收光譜定量分析的關(guān)系式為A＝K_c，這是進行定量分析的基本關(guān)系式。從統(tǒng)計學(xué)的角度來看，吸光度值A(chǔ)測定是一種動態(tài)測量，實驗條件的波動引起A的變化是不可避免的，其值是一個隨機變量，被測組分的濃度c是一個固定變量，其誤差相對于吸光度值A(chǔ)而言是可以忽略不計或是可嚴格控制的，因此，A與c之間的關(guān)系只是相關(guān)關(guān)系，可以通過回歸分析建立A＝f（c），校準曲線的斜率和截距分別由*小二乘原理用回歸分析的公式計算。

由于吸光度和濃度是相關(guān)關(guān)系，不能保證每一個實驗點都落在校正曲線上，實驗點偏離校正曲線越小，測定結(jié)果的不確定度越小；反之，實驗點偏離校正曲線越大，測定結(jié)果的不確定度越大。實驗點偏離校正曲線的程度用校正曲線的標準偏差度量。校正曲線的標準偏差也叫剩余標準差，其計算公式為:

式中，A_i一吸光度測定值； 

一按校正曲線關(guān)系式預(yù)測的吸光度值；

 n—實驗點的數(shù)目。

通常用±2S_E表征校正曲線的95％置信水平的置信范圍。

事實上，在整個校正曲線的線性范圍內(nèi)，在不同濃度點，測定吸光度值的精密度是不同的。在校正曲線中央部分精密度*好，隨著實驗點偏離中心，測定吸光度值的精密度逐漸變差。

因此，要盡量利用校正曲線的中央部分進行定量分析，在報告分析結(jié)果的精密度時一定指明獲得該精密度的濃度。校正曲線上各實驗點測定吸光度值的精密度S_y。

在理想的情況下，校正曲線是一條通過原點的直線，但在通常情況下，校正曲線并非在整個濃度范圍內(nèi)都呈線性。造成校正曲線彎曲的原因，有很多方面。

1.非吸收線的影響

 當共振線和非吸收線同時進入檢測器時，于非吸收線不遵循比耳定律，引起工作曲線的上部彎曲。

2.共振變寬

 當待測元素濃度大時，其原子蒸氣的分壓增大產(chǎn)生共振變寬，使吸收強度下降，由于吸收強度的下降與原子蒸氣密度的增高不成比例，故標準曲線上部向濃度軸方向彎曲。

3.電離效應(yīng)

 當元素的電離電位低于約6電子伏時，在火焰中發(fā)生電離，使基態(tài)原子數(shù)減小濃度低時，電離度大，吸光度下降多；濃度增高電離度逐漸減小，吸光度下降程度也逐漸減小，所以引起標準工作曲線向濃度軸彎曲。一般說來，若光源、狹縫等測定條件適當在低濃度時可把標準曲線當做直線。另外，由于噴霧效率的經(jīng)常變化，標準曲線的斜率每天都會稍有改變。因此，每次測定前必須用標準溶液對吸光值進行適當校正。如果標準溶液和試樣溶液的物理狀態(tài)差別較大，噴霧狀態(tài)就發(fā)生變化造成誤差。因此應(yīng)使標準溶液和試樣溶液具有相同的酸濃度和鹽濃度。為抑制干擾而使用其他元素或試劑時，在標準溶液和試樣溶液中都必須加入，而且兩者要在相同溫度下進行測定。

總的說來，標準曲線法簡單、快速，適用于大量組成相似的試樣分析，但為了保證分析的準確度，要注意以下幾點：

（1）標樣和試樣的分析測試條件要穩(wěn)定一致。

（2）要正確扣除空白，消除干擾。

（3）標準系列濃度選點均勻，各點應(yīng)在吸收定律的直線范圍內(nèi)。

（4）控制分析曲線吸光值在0.1～0.5。

用純試劑配制各種濃度的標準溶液，測定吸光度值，繪制濃度-吸光度值（或相當于這種關(guān)系的）標準曲線，在曲線上內(nèi)插試樣溶液的吸光值，即能求出試樣的濃度。

標準曲線的形狀與所用空心陰極燈的特性、焰的均勻性、單色器的分辨率以及狹縫寬度等許多因素有關(guān)。火焰中原子濃度不均勻也導(dǎo)致標準曲線彎曲。還有其他原因，例如，溶液濃度變化大時，溶液的黏度隨濃度增加而增加，溶質(zhì)的實際噴霧量減少，也導(dǎo)致標準曲線彎曲，但這個原因不太重要。

在原子吸收光譜分析中，由于存在多種譜線變寬的因素，例如自然變寬、多普勒（熱）變寬、同位素效應(yīng)、羅蘭茲（壓力）變寬、場變寬、自吸和自蝕變寬等，引起了發(fā)射線和吸收線變寬，尤以發(fā)射線變寬影響*大。譜線變寬能引起校正曲線彎曲，靈敏度下降。減小校正曲線彎曲的幾點措施：

（1）選擇性能好的空心陰極燈，減少發(fā)射線變寬。

（2）燈電流不要過高，減少自吸變寬。

（3）分析元素的濃度不要過高。

（4）對準發(fā)射光使其從吸收層中央穿過。

（5）工作時間不要太長，避免光電倍增管疲勞和空心陰極燈過熱。

（6）助燃氣體壓力不要過高，可減小壓力變寬。